济南兰光 PARAM CHY-C2 测厚仪

济南兰光 PARAM CHY-C2 测厚仪

      测厚仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。  

产品特点  
微电脑控制、液晶显示 
菜单式界面、PVC操作面板 
接触式测量 
测头自动升降 
手动、自动双重测量模式 
数据实时显示、自动统计、打印 
显示最大值、最小值、平均值和统计偏差 
标准接触面积、测量压力(非标可选) 
标准量块标定 
微型打印机 
RS232接口 
网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
 
技术指标 
测量范围:0~2mm(常规)   0~6mm;12mm(可选) 
分 辨 率:0.1μm  
测量速度:10次/min(可调) 
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)  
接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)  注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制 
电    源:AC 220V 50Hz  
外形尺寸:300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)  
净    重:33kg  

标    准 
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 

配    置  
标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件  
选 购 件:专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码 

       

济南兰光         PARAM CHY-C2 测厚仪