上光六厂测量显微镜15J

上光六厂测量显微镜15J

  • 品牌 上光六厂|SOIF
  • 型号 15J
  • 商品详情

    产品特点:

    15J测量显微镜是光学仪器计量仪器之一,它的结构简单,操作方便,使用范围极广,主要用途如下:①直角坐标中测定长度,例如测定孔径、基面距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、瞳孔外圆直径等。②转动度盘测定角度,例如对刻度盘,样板、量规、钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。③用作观察显微镜,以比较法检查工作表面光洁度,签定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版,检验纺织纤维等。总放大倍数:25X-100X 


    标签:显微镜|测量显微镜|手轮测量显微镜|测量显微镜15J


     技术参数:

    光学系统规格

    目镜

    10X 带十字尺 焦距:25.00mm

    物镜

    2.5X/0.08 焦距:43.40mm

    10X/0.25 焦距:17.13mm

    显微镜放大倍数

    25X

    100X

    工作距离

    58.84mm

    7.81mm

    视场直径

    5.60mm

    1.40mm

    测量工作台读数装置主要规格

    X轴移动测量范围

    50.00mm

    Y轴移动测量范围

    13.00mm

    测微器分度值

    0.01mm

    测量台转动范围

    不限

    测量台刻度盘分度范围

    0º ~ 360º

    测量台刻度盘之分度值

    1 º

    测量台刻度盘游读数示值

    6′

    测量精度

    仪器示值误差

    ±(5+L/15)微米 L—被测件长度(mm)

    仪器示值误差

    包括测量误差与仪器系统误差

    环境温度变化

    (20 ± 3) ºC

    仪器主要尺寸及重量

    测量台与物镜间最大距离

    80mm

    测量工作台直径

    120mm

    仪器外形尺寸

    325 × 262 × 220 (mm)

    包装尺寸

    375×285×250(mm)

    仪器重量

    10.5kg