彼爱姆9J光切法显微镜(普通型)

彼爱姆9J光切法显微镜(普通型)

  • 品牌 彼爱姆|BM
  • 型号 9J
  • 商品详情

    用途
    9J光切法显微镜是以光切法测量零件加工表面的微观不平度。适用于测量1.0~80微米即原标准▽3-▽9级表面光洁度。

    对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。 

    光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的。

    是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。


    技术参数


    1、摄影装置放大倍数:约6X

    2、测量不平度范围 :0.001~0.08mm

    3、不平宽度: 用测微目镜: 0.0007~2.5mm;用坐标工作台:0.01~13mm

    4、仪器重量: 约23kg

    5、外形尺寸: 约180×290×470mm



    测量范围不平度平均高度值 (um) 表面光洁度级别 所需物镜 总放大倍数

    物镜组件

    工作距离 (mm)

    视场 (mm)

    >1.0~1.6

    >1.6~6.3

    >6.3~20

    >20~80

    9

    8~7

    6~5

    4~3

    60timesN.A.0.55

    30timesN.A.0.40

    14timesN.A.0.20

    7timesN.A.0.12

    510times

    260 times

    120 times

    60 times

    0.04

    0.2

    2.5

    9.5

    0.3

    0.6

    1.3