WYV-S数显折射仪是国内首创的高精度多波长大量程数显折射仪，能对透明或半透明固体或液体物质的折射率，平均色散、部分色散（即能测定706.5nm、656.3nm、589.3nm、546.1nm、486.1nm、435.8nm、434.1nm和404.7 nm等八种常用波长的折射率）和糖溶液的质量分数（Brix）进行快速精确地测定的仪器。有友好的操作界面、测试速度快、重复性好、有温度修正、数据存储、U盘存储和USB通信接口功能。由于折射率是物质的重要光学常数之一，能借以了解物质的光学性能、纯度等，所以此仪器是科研单位、高等院校和光学玻璃行业必备仪器之一，也广泛应用于石油、化学、制药、制糖、食品工业等行业。
主要技术参数
（1) 折射率测量范围（nD）：1.30000～1.70000（液体）
（2) 折射率测量范围（nD）：1.30000～1.95000（固体）
（3) 多波长：706.5nm、656.3nm、589.3nm、546.1nm、486.1nm、435.8nm、434.1nm和404.7 nm
（4) 测量示值误差（nD）：±0.00005
（5) 测量分辨率（nD）：0.000001
（6) 蔗糖溶液质量分数（锤度Brix）读数范围：0～100%
（7) 测量示值误差（锤度Brix）：±0.1%
（8) 测量分辨率（锤度Brix）：0.01%
（9) 温度显示范围：0～80℃
（10) 温度显示分辨率：0.1℃
（11) 输出方式： USB或U盘
（12) 电源：AC220V～240V 频率50Hz±1Hz
（13) 仪器外形尺寸:376mm×230mm×440mm
（14) 仪器净重：11Kg

产品描述  
 特点：
本仪器可用来对透明或半透明固体和液体物质的折射率，平均色散和部分色散进行快速精确地测定(即能测定706.5nm、656.3nm、589.3nm、546.1nm、486.1nm、435.8nm、434.1nm和404.7nm等八种常用波长的折射率)。
当光学玻璃牌号已知时可以很快地测得其折射率，这些数据对光学仪器的设计和制造是极为有用的。
一般仪器在测量试样折射率时需要有一定大小，而此仪器利用精确配制浸液法可求得最小试样的折射率，对保护被测试样是尤为重要的。
由于此仪器基于折射定律的原理，所以被测试样折射率不受仪器棱镜折射率的限制。这在光学玻璃厂中进行新产品试制特别有用。
因为仪器的测量精度为5×10-5所以可对材料进行高温热处理后的折射率变化进行测定。
综合上述各点，本仪器是光学玻璃厂、光学仪器厂以及其他有关科研单位，高等院校必备仪器之一。
主要技术参数：
测量范围：固体 nD  1.30000~1.95000   液体 nD  1.30000~1.70000
测量精度：5×10-5
V棱镜折射率
  固体测量用有  nOD1=1.75   

液体测量用有  nOD4=1.51   nOD2=1.65   nOD3=1.51
望远镜放大倍数 5×
读数系统放大倍数：25×
读数度盘最小格值：10′
测微尺最小格值：0.05′
仪器重量：11kg
仪器体积：376mm×230mm×440mm